菲希尔X射线测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射线光谱仪,主要用于无损厚度测量和成分析。
菲希尔X射线测厚仪比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了
XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有:
在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量
在连接器和电气元件上的测量
电镀液的溶液成分分析
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同的样品平台:
XUL: 固定平面平台
XUL XYm: 手动X/Y平台
高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。
通过强大而界面友好的WinFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
XUL型光谱仪是**而保护**的测量仪器,型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求。
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM通用规范
用途
|
能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析
|
可测量元素范围
|
从氯(17)到铀(92),如使用选配的WinFTM® BASIC,可多同时测量24种元素
|
设计理念
|
台式仪器,测量门向上开启
|
测量方向
|
由下往上
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线源
X射线靶材
|
带铍窗口的钨靶射线管
|
高压
|
三种可调高压:30 kV,40 kV,50 kV
|
孔径(准直器)
|
圆形Ø 0.3mm ,(可选配置:矩形0.3 mm x 0.05 mm)
|
测量点大小
|
取决于测量距离和使用的准直器的大小,视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸,小的测量点面积约为Ø 0.51 mm。
|
测量距离,如样品为腔体时
|
使用保护的DCM(测量距离补偿法)功能:
测量距离为0 ~ 20 mm时,为已校准范围;
测量距离为20 ~ 27.5 mm时,为非校准范围。
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线探测
X射线接收器
|
比例接收器
|
二次滤波器
|
可选:钴滤波器或镍滤波器
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品定位
视频显微镜
|
高分辨率 CCD彩色摄像头,可用来观察测量位置 十字线带有刻度尺和测量点指示装置
测量区域的LED照明亮度可调节
|
放大倍数
|
38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品台
样品台
|
XUL
|
XUL XYm
|
设计
|
固定样品平台
|
手动XY平台
|
X/Y方向大可移动范围
|
-
|
50 x 50 mm
|
样品放置可用区域
|
250 x 280mm
|
样品大重量
|
2kg
|
样品高度
|
240mm
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM电气参数
电压,频率
|
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
|
功率
|
大为 120 W (测量头重量,不包括计算机)
|
保护等级
|
IP40
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM仪器规格
外部尺寸
|
宽x深x高[mm]:395 x 580 x 510
|
重量
|
约45 kg
|
内部测量舱尺寸
|
宽x深x高[mm]:360 x 380 x 240
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM环境要求
测量时温度
|
10°C – 40°C / 50°F – 104°F
|
存储或运输时温度
|
0°C – 50°C / 32°F – 122°F
|
空气相对湿度
|
≤ 95 %,无结露
|
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM计算系统
计算机
|
带扩展卡的Windows®个人计算机系统
|
软件
|
标准配置:Fischer WinFTM® LIGHT
|
可选配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
|
执行标准
|
CE合格标准
|
EN 61010
|
X射线标准
|
DIN ISO 3497和 ASTM B 568
|
型式许可
|
型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防护措施的测量仪器
|
fischer X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM订货号
FISCHERSCOPE X-RAY XUL
|
603-029
|
FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm
|
603-131
|
如有特殊要求,可与Fischer磋商,定制特殊的XUL型号。
|
其他 相关仪器:铁素体测量仪,高斯计,张力仪,扭力测量仪,冲击试验机,扭转疲劳试验机,电子万能试验机,弹簧试验机,金属电导率仪,人造板试验机,车辆测试设备